對樣品無破壞，可進(jìn)行原位測試；，能獲得高精度的配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù)，一般認(rèn)為原子間距度可達(dá)0，01?，在研究中，XAFS越來越成為“標(biāo)配”，國內(nèi)越來越多的課題組力圖通過該技術(shù)進(jìn)行深入表征，提升研究檔次，有鑒于此，湖南大學(xué)譚勇文教授課題組[4]對BiSn合金前驅(qū)體，采用一步電化學(xué)刻蝕的方法，得到了一種新型的Bi基納米線結(jié)構(gòu)催化劑，該催化劑以高導(dǎo)電性的Bi為金屬核，以Sn摻入非晶相BiOx為殼，zui終實現(xiàn)了電化學(xué)還原CO2為甲酸的高選擇性。

如美國康奈爾大學(xué)CHESS光源，北京同步輻射裝置BSRF，BSRF依托于北京正負(fù)電子對撞機(jī)，部分時間按同步輻射專用模式運行，在專用模式下，總體性能大體達(dá)到第二代光源水平，X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（X-rayabsorptionfinestructure，XAFS）也叫做X射線吸收譜（X-rayabsorptionspectroscopy，XAS），是一種基于同步輻射光源的，研究材料局域原子、電子結(jié)構(gòu)的一種有力的工具。

第二代是同步輻射專用光源，典型設(shè)計為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機(jī)時供不應(yīng)求，如上海光源BL14W1線站的機(jī)時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎(chǔ)的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。